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          BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

          產品介紹

          BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

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          基本性能指標


          粒徑檢測

            原理原理

            動態光散射技術

            粒徑范圍

            0.3 nm – 15 μm

            樣品量

            3 μL – 1 mL

            檢測角度

            90 ° + 12°

            分析算法

           Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

          Zeta電位測試

            原理原理

            相位分析光散射技術

            檢測角度

            12°

            Zeta范圍

            無實際限制

            電泳遷移率范圍

            >±20 μ.cm/V.s

            電導率范圍

             0 - 260 mS/cm

            Zeta測試粒徑范圍

            2 nm – 110 μm 

          分子量測試

            分子量范圍

            342 Da – 2 x 107 Da 

          微流變測試

            頻率范圍

             0.2 – 1.3 x 107 rad/s

            測試能力

            均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

          折光率和粘度測試

            粘度范圍

            0.01 cp – 100 cp

            折光率范圍

            1.3-1.6

          趨勢測試

            時間和溫度

           

          系統參數

            溫控范圍

            -15°C - 110°C ,精度±0.1°C 

            冷凝控制

            干燥空氣或者氮氣

            標準激光光源

            50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

            相關器

            最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍

            檢測器

            APD (高性能雪崩光電二極管)

            光強控制

            0.0001%  - 100%,手動或者自動

          軟件

            中文和英文

           符合21CFR Part 11



          檢測參數


          ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

          ●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

          ●分子量

          ●分布系數 PD.I

          ●擴散系數 D

          ●流體力學直徑 DH

          ●顆粒間相互作用力因子 kD

          ●溶液粘度



          檢測技術

          ●動態光散射

          ●電泳光散射

          ●相位分析光散射

          ●靜態光散射




          選配件


          BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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          相關技術    


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          相關應用 更多+

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